XPE26 微量分析天平
XPE 微量分析天平将最大秤量与最小秤量有机的结合在一起。 可直接在较大的去皮容器中加样，从而有效的节省贵重的原材料并 大幅降低实验成本。
- 品牌： METTLER/梅特勒
- 型号： XPE26
- 其他型号：
最大秤量22 g
可读性1 µg
最小称量值 (USP)，典型值1.4 mg
重复性（校验砝码）0.004 mg (1 g)
线性误差（典型值）±0.01 mg
稳定时间3.5 s
尺寸 (高x宽)322 mm x 263 mm
秤盘外形尺寸(深x宽)40 mm x 40 mm